Laker Automated Test Chip Development Platform

Laker T1の特徴と導入効果

• テストチップ開発用設計プラットフォーム。
• テストチップ開発サイクルを1/10から1/24へ短縮可能。
• 人的エラーによるマスクおよびウェハのリスピンコストを数億円削減。
• パラメタライズド・アークテクチャの採用による再利用性と次世代ジオメトリおよびプロセスへの容易な対応が可能。
• オープン・インターフェイスによる3rdパーティ・ソリューションとの容易な統合
• 複数Fabサイトでのスムーズな生産立ち上げが可能。
• テスト・ストラクチャの集中管理。
• テストチップ・ドキュメントの自動生成による時間節約。
• Mentor Graphics社　Calibre(TM)/CalibreRVE(TM)とのダイレクトリンク機能により、デザインルールチェックのエラー修正時間を短縮。

主な機能

テストストラクチャのパラメタライズ

• 殆どのパターンに対応可能な、GUIによる容易なパラメタライゼーション。
• 再利用可能なパラメタライズド・ストラクチャ・ライブラリ。
• 過去の資産（GDS II) データのインポートによるデザイン再利用が可能。
• TCL/Tkによるプログラミング・ストラクチャ、カスタマイズが可能。

テストライン・マネージメント

• Test Line Manager (TM) 機能によるテストラインの管理、再定義、変更が可能。
• プローブ・カードとマスタ・テスト・ストラクチャの組み合わせを自由に設定可能。
• マスタ・テストライン・テンプレート作成機能。
• テストライン構造のプレビュー機能による、正確なテスト・ライン定義が可能。

テストライン・リアライゼーション

• Test Line Manager によって定義された全てのテストラインを、GDSII 出力可能な実際のデザインとして生成する機能。
• プローブライン、パラメタライズド・テストストラクチャ、パッドからデバイスへの自動配線機能。
• 各テストライン用パラメータの詳細定義機能。
• メッシュ配線、テーパー配線など、各種機能向けオプション。

ドキュメント・生成

• Test Line Manager によって生成された各テストラインの詳細なドキュメントをHTML, Text形式で作成可能。
• Parameterized Test Structureとして定義されたデバイスに関して、パラメタライズに関するドキュメントを自動的にHTML形式で作成する機能。